我们的技术论文针对当下多种应用、技术和工艺挑战提供深度解析,为您介绍Finetech的成熟解决方案。
IR传感器键合
根据行业要求,生产大尺寸、高密度红外(IR)热成像传感器的首选互连方式是使用微细间距铟凸点阵列进行互连键合。然而,铟凸点与铟凸点的芯片键合工艺有着极为特殊的挑战。
铟凸点互连(IBI)倒装芯片键合
在越来越大的芯片上,更高的像素/量子位计数和互连密度的需求正在推动芯片技术的融合和单片集成。这导致对细间距微型铟凸点互连(IBI)倒装芯片键合解决方案的需求增加。
各向异性导电胶键合
当前显示器制造领域倾向于使用柔性基板到玻璃基板(FOG)和芯片到玻璃基板(COG)的键合技术。这种工艺需要配合使用各向异性导电膜或胶,与普通胶水或锡焊料相比而言具有完全不同的功能原理。
返修01005至008004小型被动元器件
如今随着集成化和小型化的市场趋势,008004和01005小型被动元器件变得越来越重要。它可以实现超扁平封装设计,应用于开发超便携电子产品例如…
SMD屏蔽罩返修
随着市场不断对PCB提出严格的要求,射频屏蔽罩(RF shield)的设计又增加了返修的挑战。放入射频屏蔽罩就只有一个目标 – 最小化射频噪声干扰,它可以使…
BGA/CSP和CPU/GPU返修
大型球阵列BGA、处理器单元(CPU)、图形处理芯片(GPU)和细间距阵列CSP对返修工作台的配置提出很高的要求:精确的热量管理、高精度贴片和高光学分辨率。
QFN/MLF返修
扁平封装如方形扁平无引脚封装(QFN)或其它微引线框架封装(MLF)通常具有出色的热性能、电感和电容特性(例如:导致更短的响应时间)正在被越来越多地加入到…
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